1.影響因素
(1)溫度的影響。tgδ值受溫度影響而變化，為了比較試驗(yàn)結(jié)果，對(duì)同一設(shè)備在不同溫度下的變化必須將結(jié)果歸算到一個(gè)鞏固的基準(zhǔn)溫度，一般歸算到20。
(2)濕度的影響。在不同的濕度下測(cè)得的值也是有差別的，應(yīng)在空氣相對(duì)濕度小于80%下進(jìn)行試驗(yàn)。
(3)絕緣的清潔度和表面泄漏電流的影響。這可以用清潔和干燥表面來(lái)將損失減到最小，也可采用涂硅油等辦法來(lái)消除這種影響。
2.分析
(1)和《電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程》的要求值作比較。
(2)對(duì)逐年的試驗(yàn)結(jié)果應(yīng)進(jìn)行比較，在兩個(gè)試驗(yàn)間隔之間的試驗(yàn)測(cè)量值不應(yīng)該有顯著的增加或降低。
(3)當(dāng)tgδ值未超過(guò)規(guī)定值時(shí)，可以補(bǔ)充電容量來(lái)分析，電容量不應(yīng)該有明顯的變化。
(4)應(yīng)充分考慮溫度等的影響，并進(jìn)行修正。
(5)通過(guò)測(cè)tgδ＝f(U)的曲線(xiàn)，觀(guān)察tgδ是否隨電壓而上升，來(lái)判斷絕緣內(nèi)部是否有分層、裂紋等缺陷。
3.綜合判斷
由上述可知，每一項(xiàng)預(yù)防性試驗(yàn)項(xiàng)目對(duì)反映不同絕緣介質(zhì)的各種缺陷的特點(diǎn)及靈敏度各不相同，因此對(duì)各項(xiàng)預(yù)防性試驗(yàn)結(jié)果不能孤立地、單獨(dú)地對(duì)絕緣介質(zhì)做出試驗(yàn)結(jié)論，而必須將各項(xiàng)試驗(yàn)結(jié)果全面地聯(lián)系起來(lái)，進(jìn)行系統(tǒng)地、全面地分析、比較，并結(jié)合各種試驗(yàn)方法的有效性及設(shè)備的歷史情況，才能對(duì)被試設(shè)備的絕緣狀態(tài)和缺陷性質(zhì)做出科學(xué)的結(jié)論。例如，當(dāng)利用絕緣電阻測(cè)試儀和電橋分別對(duì)變壓器絕緣進(jìn)行測(cè)量時(shí)，如果tgδ值不高，其絕緣電阻、吸收比較低，則往往表示絕緣中有集中性缺陷；如果tgδ值也高，則往往說(shuō)明絕緣整體受潮。
一般地說(shuō)，如果電氣設(shè)備各項(xiàng)預(yù)防性試驗(yàn)結(jié)果(也包括破壞性試驗(yàn))能全部符合規(guī)定，則認(rèn)為該設(shè)備絕緣狀況良好，能投入運(yùn)行。但是對(duì)非破壞性試驗(yàn)而言，有些項(xiàng)目往往不作具體規(guī)定，有的雖有規(guī)定，然而，試驗(yàn)結(jié)果卻又在合格范圍內(nèi)出現(xiàn)“異常”，即測(cè)量結(jié)果合格，增長(zhǎng)率很快。對(duì)這些情況如何作出正確判斷，則是每個(gè)試驗(yàn)人員非常關(guān)心的問(wèn)題。根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)，現(xiàn)將電氣設(shè)備絕緣預(yù)防性試驗(yàn)結(jié)果的綜合分析判斷概括為比較法。它包括下列內(nèi)容：
(1)與設(shè)備歷年(次)試驗(yàn)結(jié)果相互比較，因?yàn)橐话愕碾姎庠O(shè)備都應(yīng)定期地進(jìn)行預(yù)防性試驗(yàn)，如果設(shè)備絕緣在運(yùn)行過(guò)程中沒(méi)有什么變化，則歷次的試驗(yàn)結(jié)果都應(yīng)當(dāng)比較接近。如果有明顯的差異，則說(shuō)明絕緣可能有缺陷。
(2)與同類(lèi)型設(shè)備試驗(yàn)結(jié)果相互比較。因?yàn)閷?duì)同一類(lèi)型的設(shè)備而言，其絕緣結(jié)構(gòu)相同，在相同的運(yùn)行和氣候條件下，其測(cè)試結(jié)果應(yīng)大致相同。若懸殊很大，則說(shuō)明絕緣可能有缺陷。
(3)同一設(shè)備相間的試驗(yàn)結(jié)果相互比較。因?yàn)橥辉O(shè)備，各相的絕緣情況應(yīng)當(dāng)基本一樣，如果三相試驗(yàn)結(jié)果相互比較差異明顯，則說(shuō)明有異常的絕緣可能有缺陷。
(4)與《電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程》規(guī)定的“允許值”相互比較。對(duì)有些試驗(yàn)項(xiàng)目，《電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程》規(guī)定了“允許值”，若測(cè)量值超過(guò)“允許值”，應(yīng)認(rèn)真分析，查找原因，或在結(jié)合其他試驗(yàn)項(xiàng)目來(lái)查找缺陷。
總之，應(yīng)當(dāng)堅(jiān)持科學(xué)態(tài)度，對(duì)試驗(yàn)結(jié)果必須全面地、歷史地綜合分析，掌握設(shè)備性能變化的規(guī)律和趨勢(shì)，這是多年來(lái)試驗(yàn)工作者總結(jié)出來(lái)的一條綜合分析判斷試驗(yàn)結(jié)構(gòu)的重要原則，并以此來(lái)正確判斷設(shè)備絕緣狀況，為檢修提供依據(jù)。
表1-1列出了非破壞性試驗(yàn)基本方法的比較，在試驗(yàn)中應(yīng)充分利用它們的特點(diǎn)去發(fā)掘絕緣缺陷。
表1-1 非破壞性試驗(yàn)基本方法的比較
|
試驗(yàn)方法
|
能 發(fā)現(xiàn)的缺陷
|
不能發(fā)現(xiàn)的缺陷
|
評(píng) 價(jià)
|
|
測(cè)量絕緣電阻
|
貫通的集中性缺陷，整體受潮或有貫通性的受潮部分
|
未貫通的集中性缺陷，絕緣整體老化及游離
|
基本方法之一
|
|
測(cè)量吸收比
|
受潮，貫通的集中性缺陷
|
未貫通的集中性缺陷，絕緣整體老化
|
應(yīng)用于判斷受潮
|
|
測(cè)量泄漏電流
|
同絕緣電阻測(cè)量，但較靈敏
|
同絕緣電阻測(cè)量
|
基本方法之一
|
|
測(cè)量tgδ
|
整體受潮、劣化，小體積被試品的貫通及未貫通缺陷
|
大體積被試品的集中性缺陷
|
基本方法之
|
有關(guān)產(chǎn)品購(gòu)買(mǎi)、信息咨詢(xún)、技術(shù)資料等歡迎致電：027-87771780
版權(quán)說(shuō)明：本站所有文章、圖片、視頻等資料的版權(quán)均屬于武漢華電高科電氣設(shè)備有限公司，其他任何網(wǎng)站或單位未經(jīng)允許禁止轉(zhuǎn)載、用于商業(yè)盈利，違者必究。如需使用，請(qǐng)與我們聯(lián)系；允許轉(zhuǎn)載的文章、圖片、視頻等資料請(qǐng)注明出處"來(lái)自：武漢華電高科"。
公司地址：武漢東湖高新技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)光谷
總部國(guó)際創(chuàng)智園5號(hào)樓
傳真：027-87771786 
電話(huà)：027-87771781
